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早稲田大学 創造理工学研究科 経営システム工学専攻 2018年7月実施 統計科学 問題7

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祭音Myyura

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  1. V(X)=V(Y)=V(Z)=4V(X)=V(Y)=V(Z)=4C(X,Y)=0C(X,Y)=0C(X,Z)=1C(X,Z)=1C(Y,Z)=3C(Y,Z)=3 とする。S=X+YS=X+YT=XYT=X-YW=X+2YZW=X+2Y-Z に対し、V(S),V(T),V(W),C(S,T)V(S),V(T),V(W),C(S,T) を求めよ。

  2. 独立な XiX_i の密度が

    f(x;θ)=16θ4x3eθx,x>0f(x;\theta)=\frac16\theta^4x^3e^{-\theta x},\qquad x>0

    であるとき、θ\theta の最尤推定量を求めよ。

  3. 病気 K の有病率は0.01、感度は0.95、非感染者の偽陽性率は0.20である。陽性者が実際に感染している確率を求めよ。

  4. 4因子 A、B、C、D を各2水準とし、L8L_8 直交配列表で実験した。交互作用は A×BA\times BA×CA\times C のみ考える。A1 のデータ合計が14、A2 が10である。

    1. A の平方和を求めよ。
    2. A の自由度を求めよ。
    3. 総自由度を求めよ。
    4. A×CA\times C のみを誤差へプーリングした後の誤差自由度を求めよ。
  5. 重回帰分析における残差とテコ比を説明せよ。

Kai

[小問 1]

分散・共分散の双線形性より

V(S)=4+4+2(0)=8,V(T)=4+42(0)=8,V(W)=4+4(4)+4+2{2(0)12(3)}=10,C(S,T)=C(X+Y,XY)=V(X)V(Y)=0.\begin{aligned} V(S)&=4+4+2(0)=\boxed8,\\ V(T)&=4+4-2(0)=\boxed8,\\ V(W)&=4+4(4)+4+2\{2(0)-1-2(3)\}=\boxed{10},\\ C(S,T)&=C(X+Y,X-Y)=V(X)-V(Y)=\boxed0. \end{aligned}

[小問 2]

尤度と対数尤度は

L(θ)=6nθ4n(ixi3)eθixi,L(\theta)=6^{-n}\theta^{4n}\left(\prod_i x_i^3\right) e^{-\theta\sum_i x_i}, (θ)=const.+4nlogθθixi.\ell(\theta)=\text{const.}+4n\log\theta-\theta\sum_i x_i.

したがって

(θ)=4nθixi=0\ell'(\theta)=\frac{4n}{\theta}-\sum_i x_i=0

より

θ^ML=4niXi=4Xˉ.\boxed{\hat\theta_{\mathrm{ML}}=\frac{4n}{\sum_iX_i}=\frac4{\bar X}}.

第2微分は 4n/θ2<0-4n/\theta^2<0 なので最大である。

[小問 3]

ベイズの定理より

P(K+)=P(+K)P(K)P(+K)P(K)+P(+Kc)P(Kc)=0.950.010.950.01+0.200.99=194150.0458.\begin{aligned} P(K\mid+) &=\frac{P(+\mid K)P(K)} {P(+\mid K)P(K)+P(+\mid K^c)P(K^c)}\\ &=\frac{0.95\cdot0.01}{0.95\cdot0.01+0.20\cdot0.99}\\ &=\boxed{\frac{19}{415}\approx0.0458}. \end{aligned}

[小問 4]

全8回の実験の総和は T=14+10=24T=14+10=24 であり、各水準は4回ずつ現れる。

SSA=1424+10242428=49+2572=2.SS_A=\frac{14^2}{4}+\frac{10^2}{4}-\frac{24^2}{8} =49+25-72=\boxed2.

2水準因子なので

df(A)=1.\boxed{\operatorname{df}(A)=1}.

総自由度は

81=7.\boxed{8-1=7}.

A、B、C、D、A×BA\times BA×CA\times C が各1自由度を使うため、当初の誤差自由度は 76=17-6=1 である。A×CA\times C の1自由度を誤差へ加えると

df(Epooled)=2.\boxed{\operatorname{df}(E_{\mathrm{pooled}})=2}.

[小問 5]

残差は観測値と当てはめ値の差

ei=yiy^ie_i=y_i-\hat y_i

であり、モデルが説明できなかった変動を表す。残差プロットは線形性、等分散性、外れ値などの診断に用いる。

テコ比はハット行列

H=X(XTX)1XTH=X(X^{\mathsf T}X)^{-1}X^{\mathsf T}

の対角要素 hiih_{ii} で、説明変数空間において観測 ii が中心からどれだけ離れているか、また yiy_i が自分自身の当てはめ値へどれだけ影響するかを表す。高テコ比点は残差が大きいとは限らないが、残差も大きければ回帰結果への影響が強い可能性がある。